高さ測定機器 中古を買う (35)

コンディション: 中古, 製造年: 2000,

コンディション: 良好（中古）,

コンディション: 中古, 高さマーカー、平行マーカー、高さ測定装置、デジタル高さ測定およびマーキング装置 Ihodpfx Aor A H Suoc Aot -メーカー: Helios-Preisser、デジタル高さ測定および印装置 .: 20092113041 -高さ: 約1000 mm最大作業高さ：約1000 mm -デジタル表示：測定精度0.01 mm -寸法: 340/120/H1200 mm -重量：11.1 kg

コンディション: 良好（中古）, ダイヤルゲージ、ゼロアジャスター、ゼロアジャスター Ihodpfx Acsrz Sy Se Aet -メーカー：Holex、ゼロアジャスタータイプ359085 -測定精度：0.01 mm -寸法箱：165/120/H60 mm -重量：1.5 kg

コンディション: 良好（中古）,

コンディション: 中古, ハイトリッパー、パラレルリッパー、高さ測定器 Iedpfxek Nfpgo Ac Asht -メーカー：ミツトヨ、ハイトゲージタイプ192-104 -max.作業高さ：600 mm -測定ゲージ：測定精度0.01mm -アナログ表示：ダブルカウンター -外形寸法：275/120/H795 mm -重量：8.7kg

コンディション: 中古, 高さ指示計、平行指示計 -最大。働き高さ: 500 mm -硬質金属針 -寸法図。230/80/H650 mm -重量：3.4kg Iodpfob Uhi Dex Ac Aoht

コンディション: 中古, 高さ指示計、平行指示計 -最大。働く高さ: 300 mm -硬質金属針 -寸法図。175/60/H385 mm Ihjdpfxob Uhi Ee Ac Ast -重量：1.7kg

コンディション: 中古, 高さプライヤー、平行プライヤー、高さ移動ゲージ、高さ移動測定器 Ijdsfnr Iyspfx Ac Ajht -製造者。ホメル・ヴェルケ、高さ移動理論 -タイプ4626 DBP -寸法図。165/140/H430 mm -重量：7.6kg

コンディション: 中古, 高さ指示計、平行指示計 -最大。働き高さ: 500 mm Iodpfxsb Uhi Io Ac Aoht -硬質金属針 -寸法図。615/120/H75 mm -重量：2.7kg

コンディション: 良好（中古）,

コンディション: 中古, 技術詳細： x軸：120 mm z軸：610 mm 直径：- mm 測定範囲 y軸（高さ）：0〜610 mm 重量：19 kg インターフェース：2xRS-232C、2xUSB-A/B 全高：950 mm 測定システムの分解能：0.0001 mm 消費電力：43ワット 設置スペース（幅 x 奥行 x 高さ）：320 x 330 x 950 mm 二座標高さ測定器 タッチプローブホルダー2個付き：0〜872 mm 手動調整速度 エアベアリング構造 Ihedpfswa A Hmex Ac Ajt インターフェース：2x RS232C および 2x USB (A+B) 設定基準25 mm

コンディション: 中古,

コンディション: 良好（中古）,

コンディション: 非常に良い（中古）,

コンディション: ほぼ新品（中古）, サンネンゲージセッティング治具 型式：PG-400-EM Ihodpfx Aomx Rkzsc Ast

コンディション: 中古, 機能: 完全に稼働しています, 機械／車両番号: 224088,

コンディション: 中古, 製造年: 2005,

コンディション: 新しい, 機能: 完全に稼働しています,

コンディション: 新しい, 機能: 完全に稼働しています,

コンディション: 新しい, 機能: 完全に稼働しています,

コンディション: 新しい, 機能: 完全に稼働しています,

コンディション: 新しい, 機能: 完全に稼働しています,

コンディション: 非常に良い（中古）, ミツトヨ 社内用精密測定器（28577） 511-167型 Ijdpfx Acevu T Ape Aoht 測定範囲 18～35mm

コンディション: 非常に良い（中古）, ここでは、表面光沢を測定するための BYK Gardner micro-TRI デバイスを提供します。 技術データ: 光沢: 測定エリア: 高光沢 20° 10 x 10 mm、中光沢 60° 9 x 15 mm、マット光沢 85° 5 x 38 mm。 測定時間：0.5秒 測定範囲：20° 0 ～ 2000 GE / 60° 0 ～ 1000 GE / 85° 0 ～ 160 GE 再現性: 0 ～ 99.9 GE 0.2 GE / 100 ～ 2000 GE 0.5% 比較可能性: 0 ～ 99.9 GE 0.5 GE / 100 ～ 2000 GE 0.5% 層の厚さ: Isdpfx Aovn Emgjc Asht 基材：磁性Feおよび非磁性NFe 測定範囲: 0 ～ 500 μm (0 ～ 20 mil) 再現性 ± 2% / 基本公差 ± 1.5 (± 0.06 ミル)