Zeiss Contura - 7.10.6 中古を買う (156)

コンディション: オーバーホール済み（中古）, 機能: 完全に稼働しています,

コンディション: 非常に良い（中古）, 製造年: 2006,

コンディション: ほぼ新品（中古）, 製造年: 2015, 機能: 完全に稼働しています, 機械／車両番号: 201502530269, X軸測定範囲: 700 mm, Y軸測定範囲: 700 mm, Ｚ軸測定範囲: 600 mm, テーブル荷重: 560 kg（キログラム）, 装備: ドキュメント / マニュアル, 銘板あり,

コンディション: 使用可能（中古）, 製造年: 2010, Ｘ軸移動量: 700 mm, Y軸移動距離: 1,000 mm, Z軸移動距離: 600 mm,

コンディション: 使用可能（中古）, 製造年: 2019, 全高: 2,797 mm, 総重量: 1,570 kg（キログラム）,

コンディション: 中古, 製造年: 2013, 機能: 完全に稼働しています, 機械／車両番号: 201310504039 623534 -9805-130,

コンディション: 非常に良い（中古）, 技術データ メーカー：ZEISS タイプ：コンチュラG2 技術資料のご請求 また、お客様のご要望に応じて、新しいアクセサリーでモダンに仕上げることも可能です。 価格：応相談 組立・試運転が可能! 詳細なご提案をさせていただきます。 注：このサービスは、専門家のお客様のみを対象としています。 (テクニカルデータ、仕様、価格等の変更、誤記がある場合があります と価格、また先行販売されることがあります）。 Ksdpfjh R Nchsx An Uelt

コンディション: 修理が必要（中古）, 製造年: 2007, 機能: 動作しない, 機械／車両番号: 135414, X軸測定範囲: 4,200 mm, Y軸測定範囲: 1,600 mm, Ｚ軸測定範囲: 2,100 mm, コントローラモデル: C99,

コンディション: 使用可能（中古）,

コンディション: 中古, 3D座標測定機 ZEISS NUMEREX - 機能なし Kljdofy U Ewjpfx An Uet 花崗岩製測定板、花崗岩測定プレート、測定テーブル モデル番号: 3648-18、製造番号: X-1019、製造年: 約1986年 測定範囲: X = 約1250 mm、Y = 約900 mm、Z = 約400 mm 測定プレートサイズ（長さ x 幅）: 1525 x 1435 mm 有効面積: 1525 x 1100 mm 測定プレート厚み: 305 mm ポータル通過幅: 1100 mm 測定プローブマウント径: 9.5 mm 圧縮空気接続: 6バール 電源接続: 230ボルト、50 Hz - インサート用内部ネジ付き鋼付属の花崗岩プレート - X・Y・Z軸の空気圧式滑走案内による軸調整 - 5本のアジャスタブルフット付き架台上のプレート、3つの支持皿付き - コンピュータおよびソフトウェアが欠品のため（付属しません）、機能なし！ 測定機設置必要スペース（長さ x 幅 x 高さ）: 1600 x 1850 x 2200 mm 機械重量: 約2.8トン プレート片側に損傷あり（画像参照）、その他は良好な状態

コンディション: 良好（中古）, 製造年: 2016, 機能: 完全に稼働しています, 機械／車両番号: 197367,

コンディション: 使用可能（中古）, 製造年: 2003, 機能: 完全に稼働しています,

コンディション: 非常に良い（中古）, 製造年: 2019, 機能: 完全に稼働しています, X軸測定範囲: 1,000 mm, Y軸測定範囲: 1,000 mm, Ｚ軸測定範囲: 1,000 mm,

コンディション: 非常に良い（中古）, 製造年: 1990,

コンディション: 使用可能（中古）, 製造年: 2001,

コンディション: 非常に良い（中古）, 製造年: 2022, 稼働時間: 50 h, 機能: 完全に稼働しています, 機械／車両番号: SK02UXKP0579, X軸測定範囲: 550 mm, Y軸測定範囲: 600 mm, 総重量: 1 kg（キログラム）, 繰返し精度: 0.02 mm, 装備: ドキュメント / マニュアル,

コンディション: 中古, 製造年: 2011,

コンディション: 使用可能（中古）, 製造年: 2003,

コンディション: オーバーホール済み（中古）,

コンディション: 中古,

コンディション: 非常に良い（中古）, 機能: 完全に稼働しています,

コンディション: 良好（中古）, 製造年: 2012, 機能: 完全に稼働しています, X軸測定範囲: 400 mm, Y軸測定範囲: 400 mm, Ｚ軸測定範囲: 200 mm, Ｘ軸移動量: 400 mm, Y軸移動距離: 400 mm, Z軸移動距離: 200 mm, 入力電圧: 230 V, 装備: 照明, 銘板あり, 施工年: 2012 Klodpfx Anjuq Nfho Ust 触感 バストXXT E0 X/Y (1D) in [μm] at 20 ± 2 °C 1.7 + L/250 E0 XY (2D) in [μm] at 20 ± 2 °C 1.7 + L/250 E0（3D）単位[μm] at 20 ±2 °C 1.9 + L/250 スキャン公差偏差 MPE （ISO 10360-4:2000 に準拠） THP at 2.7 [μm 単一プローブ走査偏差 ISO 10360-5:2010 に準拠した MPE PFTU 1.9 [μm］ カメラシステム ツァイスディスカバリー12 EB X/Y (1D) 5) in [μm] at 20 ± 2 °C 1.7 + L/250 EB XY (2D) 5) in [μm] at 20 ± 2 °C 1.7 + L/250 プロービング偏差 MPE （ISO 10360-7:2011 に準拠 PF2D 5) 1.7 [μm］ 画像処理システムのプロービング偏差 ISO 10360-7:2011 による MPE PFV2D 5) 1.2 [μm］ 可能なサービス納品、試運転

コンディション: オーバーホール済み（中古）, 製造年: 1999, 機能: 完全に稼働しています, X軸測定範囲: 1,200 mm, Y軸測定範囲: 2,415 mm, Ｚ軸測定範囲: 1,000 mm,

コンディション: 使用可能（中古）,

コンディション: 非常に良い（中古）, 製造年: 1966, 1966年に製造されたツァイスの測定顕微鏡タイプWMM 150 / 75は、あらゆる種類のワーク、特にゲージ、金型、ネジゲージ、テンプレートなどの測定に使用されます。 Kedpfx Ajt T Uavjn Ujlt