X線回折装置 (XRD)

PANalytical X’Pert PRO MPD

PANalytical
PANalytical X’Pert PRO MPD X線回折装置（XRD）
サービスレポート抜粋：
装置名：PANalytical X’Pert PRO MPD
作成日：2021年7月7日
実施作業：
- システムの再設置および稼働開始
- 外部供給ラインの接続
- ウォームアップフェーズ
- ゴニオメーターおよび他コンポーネントの完全調整
- メンテナンスの実施、不良部品の交換を含む
使用された交換部品：
L 3.6V NC/U3 R15.0X52.0 BATTERY. NI-CD
FAN FOR X-CELERATOR UNIT FAN
FILTER FILTER, WATER
Motor PW3050
（「本装置は当社ではテストされていません」）
X’Pert PRO MPDは、結晶性材料の構造解析に対応した非常に多用途かつ高性能なX線回折装置（XRD）です。
— 純粋な研究用途だけでなく、産業や大学でのルーチンアプリケーションにも最適です。そのモジュラー設計、高速検出、温度および雰囲気制御 によって、ルーチン分析から複雑なインシチュ実験まで優れた適応性を発揮します。
主な特徴：
多彩な測定ジオメトリが可能：
- ブラッグ-ブレントアノ（θ–2θ）反射モード
- キャピラリー内粉末の透過測定ジオメトリ
- オプションでナノ構造解析用のSAXS（小角X線散乱）も対応
X線源および検出器：
- 一般的には銅アノード（Cu-Kα, λ ≈ 1.54Å）
Gbsdpfx Aaswycatehju
- X’Celerator検出器（1D、超高速）による並列データ取得
モジュラーシステム（PreFIXテクノロジー）：
- 光学系および試料ステージの迅速交換（再キャリブレーション不要）
高温下でのインシチュ測定可能：
- 約1200°Cまで対応
- 雰囲気制御：空気、窒素、酸素（還元雰囲気は制限あり）
主な用途：
- フェーズ分析および定量リートベルト解析
- 結晶子サイズ、微小歪み、残留応力の測定
- フェーズ転移、酸化、結晶化等のインシチュ観察
- ナノ粒子や多孔構造解析向けのSAXS測定
- 多様なサンプル：粉末、薄膜、セラミックス、医薬品、触媒等
主な仕様（代表値）：
特性・仕様
- 角度範囲（2θ）：約0.5°～150°
- ステップ幅：最大0.002°またはそれ以下
- ゴニオメーター：垂直、0–0、半径約240mm
- 温度範囲：室温～約1200°C
- 雰囲気：空気、N₂、O₂（還元雰囲気は制約あり）
- 検出器：X’Celerator（1D）、比例計数管
導入実績・設置例：
本装置は世界中で導入実績があり、例えば以下のような場所で使用されています：
- 大学（ETHチューリッヒ、TUドレスデン、ウィーン大学）
- 研究機関（マックス・プランク研究所、ICN2、IS2Mなど）
- 産業界（材料開発、製薬、化学等）
状態：中古 / used
付属品：写真参照
（仕様・データは予告なしに変更となる場合や誤記の可能性があります）
ご不明点はお電話にてお気軽にお問い合わせください。

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