Zeiss Axio Imager 2 中古を買う (78,595)

コンディション: 使用可能（中古）, 製造年: 2002, 機能: 完全に稼働しています, ワーク重量（最大）: 100 kg（キログラム）, 全幅: 320 mm, 全長: 640 mm, 全高: 540 mm,

コンディション: 中古, 機能: 未検証, 装備: 照明,

コンディション: ほぼ新品（中古）, 製造年: 2022, 機能: 完全に稼働しています, X軸測定範囲: 300 mm, Y軸測定範囲: 200 mm, Ｚ軸測定範囲: 200 mm, 装備: 銘板あり,

コンディション: ほぼ新品（中古）, 製造年: 2024, 機能: 完全に稼働しています, 保証期間: 12 ヶ月, 入力電流の種類: エアコン, 総重量: 1 kg（キログラム）,

コンディション: 使用可能（中古）,

コンディション: 使用可能（中古）, 製造年: 2003, 機能: 完全に稼働しています,

コンディション: 非常に良い（中古）, 製造年: 1990,

コンディション: 使用可能（中古）, 製造年: 2003,

コンディション: 中古,

コンディション: 良好（中古）, 製造年: 2012, 機能: 完全に稼働しています, X軸測定範囲: 400 mm, Y軸測定範囲: 400 mm, Ｚ軸測定範囲: 200 mm, Ｘ軸移動量: 400 mm, Y軸移動距離: 400 mm, Z軸移動距離: 200 mm, 入力電圧: 230 V, 装備: 照明, 銘板あり, 施工年: 2012 Lrsdpjuq Nfhsfx Aihsl 触感 バストXXT E0 X/Y (1D) in [μm] at 20 ± 2 °C 1.7 + L/250 E0 XY (2D) in [μm] at 20 ± 2 °C 1.7 + L/250 E0（3D）単位[μm] at 20 ±2 °C 1.9 + L/250 スキャン公差偏差 MPE （ISO 10360-4:2000 に準拠） THP at 2.7 [μm 単一プローブ走査偏差 ISO 10360-5:2010 に準拠した MPE PFTU 1.9 [μm］ カメラシステム ツァイスディスカバリー12 EB X/Y (1D) 5) in [μm] at 20 ± 2 °C 1.7 + L/250 EB XY (2D) 5) in [μm] at 20 ± 2 °C 1.7 + L/250 プロービング偏差 MPE （ISO 10360-7:2011 に準拠 PF2D 5) 1.7 [μm］ 画像処理システムのプロービング偏差 ISO 10360-7:2011 による MPE PFV2D 5) 1.2 [μm］ 可能なサービス納品、試運転

コンディション: オーバーホール済み（中古）, 製造年: 1999, 機能: 完全に稼働しています, X軸測定範囲: 1,200 mm, Y軸測定範囲: 2,415 mm, Ｚ軸測定範囲: 1,000 mm,

コンディション: 非常に良い（中古）, 製造年: 2006,

コンディション: ほぼ新品（中古）, 製造年: 2015, 機能: 完全に稼働しています, 機械／車両番号: 201502530269, X軸測定範囲: 700 mm, Y軸測定範囲: 700 mm, Ｚ軸測定範囲: 600 mm, テーブル荷重: 560 kg（キログラム）, 装備: ドキュメント / マニュアル, 銘板あり,

コンディション: 使用可能（中古）, 製造年: 2010, Ｘ軸移動量: 700 mm, Y軸移動距離: 1,000 mm, Z軸移動距離: 600 mm,

コンディション: 中古, 製造年: 1992, 測定範囲X軸 2400 mm 測定範囲Y軸 1200mm 測定範囲Z軸 1500 mm Ledpsg Er Nlsfx Aihsrl 機械重量 約9,00 t

コンディション: 中古, 製造年: 2013, 機能: 完全に稼働しています, 機械／車両番号: 201310504039 623534 -9805-130,

コンディション: 中古, バーファインポインター 過ぎ越しメーター ツァイス・イエナを作る Ledpfsda Abaox Aihorl 0-25mm 木箱の中

コンディション: 良好（中古）,

コンディション: 非常に良い（中古）,

コンディション: 非常に良い（中古）, ツァイス タイプ: DSM 962 デジタル化された走査型電子顕微鏡DSM 962は、4MBの画像メモリ、40MBの内部画像保存用ハードディスク、データと画像の外部保存用ドライブを搭載しています。 内部画像保存用ハードディスクと外部データ・画像保存用ドライブを装備しています。 これにより、以下の組成と形態に関する洞察を迅速かつ容易に得ることができる。 これにより、サブマイクロメートルの領域まで、試料表面の形態に関する洞察を迅速かつ容易に得ることができる。倍率 倍率は5倍から300,000倍で、マクロ構造とミクロ構造の両方を調べることができる。 ミクロ構造だけでなく、マクロ構造も検査できます。 特別なアクセサリーを追加することで、応用範囲を大幅に拡大することができます。 例えば、表面の微小領域の分析調査が可能です。 この装置は、従来のスイッチング素子とキーボードまたはマウス（アドオン）の両方で操作できます。 またはマウス（アドオン）電子光学系と真空制御は従来通りです。の機能 画像メモリー機能は、キーボードまたはマウス（アドオン）で操作します。フロントパネルの中央には、メニュー表示用の独立した情報画面が あります。 前面パネルの中央には、メニューを表示するための独立した情報画面があります。 この取扱説明書は、使用者が本装置で最良の結果を得るためのガイドとなるものです。 本書は、本機で最高の結果を得るためのガイドです。説明はできるだけシンプルにし、経験の浅いユーザーでも簡単に操作できるようにしまし た。 経験の浅いユーザーにも必要なツールを提供できるよう、説明はできる限り簡 単にしてあります。 Lodpfxsfcwwns Aihsrl 倍率範囲：20倍から300,000倍（作動距離7mm時 段階は1-2-3-5-10の順序で行います。 最小倍率: 50 mmの作動距離で5倍 分解能 4 nm - 30 kVのタングステンカソードで保証、作動距離6 mm、試料はチップなし。 25 nm - タングステンカソード、1 kV、作動距離6 mm、チップなし試料で保証 3.5 nm - 最適LaB6陰極使用、30 kV、作動距離6 mm、試料先端まで測定で保証。 納品範囲: (DSM 962、付属品付き) 状態：中古 (技術データや仕様に変更や誤りがある場合があります。） ご購入前に、輸送オプションについてお問い合わせください。 その他のご質問はお電話にて承ります。

コンディション: ほぼ新品（中古）, 製造年: 2013, X軸測定範囲: 1,600 mm, Y軸測定範囲: 4,200 mm, Ｚ軸測定範囲: 1,500 mm, ワーク重量（最大）: 5,000 kg（キログラム）, 装備: 銘板あり,

コンディション: 非常に良い（中古）, テクニカルデータ メーカーツァイスタイプPSM 601421 製造年:測定範囲 X: 6000mm Y: 1400mm Z: 2100mm測定精度 U1 = (35 L/50) µm U3 = (45 L/40) µm K3 = 100測定ソフトウェア UMESS Unix Holos NTお客様のご要望に応じて、新しいアクセサリを使用して機械を近代化することができます。価格：ご要望に応じて！組立・試運転可能！詳 細なオファーをご提供いたします！ご注意：弊社のオファーは専門家のお客様のみを対象としています！（技術データ、仕様、価格の変更やエ ラ ー、先行販売の可能性があります！）。 Lsdpfx Aijd Td E Njhjrl

コンディション: 非常に良い（中古）, 技術データ Ljdoh R Nchopfx Aihorl メーカー：ZEISS タイプ：コンチュラG2 技術資料のご請求 また、お客様のご要望に応じて、新しいアクセサリーでモダンに仕上げることも可能です。 価格：応相談 組立・試運転が可能! 詳細なご提案をさせていただきます。 注：このサービスは、専門家のお客様のみを対象としています。 (テクニカルデータ、仕様、価格等の変更、誤記がある場合があります と価格、また先行販売されることがあります）。

コンディション: 非常に良い（中古）, 技術データ Lrsdsiqb Ipjpfx Aihel メーカー：ZEISS タイプ: Carmet 16/25 シリアルナンバー：105324 重量：12300kg メジャリングプレート X = 7000 mm Y = 3000 mm Z = 270 mm 測定範囲（片側） Y = 1600 mm Z = 2500 mm 長さ測定の不確かさ MPE-E = (35 + L/50) µm

コンディション: 中古, 製造年: 2014,