蛍光X線分析装置

Hitachi FT230

皆さん、

日立の蛍光X線分析装置FT230を販売いたします。

メーカーからの抜粋です：
FT200シリーズの各要素は、分析時間を大幅に短縮するために開発されました。

自動フォーカシングによるサンプルローディング時間の短縮
Find My Part™機能によるインテリジェントな認識により、完全な測定ルーチンが自動的に設定されます。
サンプルビューは画面の大部分に表示され、視認性に優れています。
自己診断機能により、装置の状態と安定性を確認
他のソフトウェアとのシームレスな統合と簡単なデータエクスポート

新しいユーザーインターフェースによる直感的で使いやすい操作性
Tjdpfxeuwkr Dj Ag Aef
パワフル：最大4つのレイヤーと基板の同時測定
要求の厳しい生産環境またはラボ環境用に設計
ASTM B568およびDIN ISO 3497規格に準拠
ENIG (IPC-4552B)、ENEPIG (IPC-4556)、Immersion Sn (IPC-4554)、Immersion Ag (IPC-4553A)の仕様に対応。

さらに詳しい情報
検出器： シリコンドリフト検出器（SDD）
元素範囲： Al (13) - U (92)
ステージ移動: 250 x 200 mm
電動Z軸移動: 205 mm
最大サンプルサイズ: 500 x 400 x 150 mm
レーザーフォーカス: 標準
膜厚分析：可能
RoHSスクリーニング：可能

機械の詳細と画像は、ご要望に応じてご提供いたします。

免責事項

提供されるマシンは "現状有姿 "で "無保証 "で販売される。商品性または特定目的への適合性を含むがこれに限定されない、いかなる明示的または黙示的な保証も、ここに明示的に否認 されるものとする。

販売者はマシンの機能性、信頼性、正確性に関して一切の責任を負いません。購入前にマシンを徹底的に検査し、それが購入者の要求を満たし ていることを確認するのは購入者の責任である。

マシンの説明や仕様は情報提供のみを目的としたものであり、不正確な情報や誤りが含まれている可能性があります。販売者は、そのような不 正確な情報や誤りに対して責任を負わず、そのような情報を更新または修正する義務を負わないものとする。

購入者は、本機の購入、使用、使用不能から直接的または間接的に生じるいかなる損害または損失（逸失利益、事業の中断、結果的損害を含む がこれらに限定されない）について、販売者が責任を負わないことに同意する。

購入後のマシンの修理や改造はすべて購入者の責任となります。不適切な修理や改造によって生じた損害については、販売者は責任を負いませ ん。

本機を購入することにより、購入者は本免責事項の条項に明示的に同意し、本機の購入または使用に関連する販売者に対するいかなる請求も放 棄するものとします。

この広告は自動翻訳されています。翻訳ミスがある可能性があります。