コンポーネント

unbekannt CTX125 X-RAY System Kontrolleinheit

製造年: 2025, コンディション: 新しい, 中型パック、袋類用X線検査システム。食品や非食品に含まれる金属、ガラス、石、プラスチックなどの異物の検出に適しています。 - 仕様：コンベアベルト幅：410 mm。検出精度: Pb は Ø 0.2 mm から、Fe は Ø 0.28 mm から、SUS は Ø 0.28 mm から、石、ガラスなどの非金属は Ø 1.2 mm から。 X線出力：80 kVp、1.25 mA;検出器解像度：0.4 mm X線放出量: < 1usv/h;コンベアベルトの高さ：850±30mmコンベアベルト速度（製品によって異なります）：10～100 m/分ユーザー インターフェイス: 15 インチ タッチスクリーン。ソフトウェア: intellisens®X-ray。動作温度: 5 ～ 35 °C。排出システム: 要件に応じてオプションで利用可能。電源: 220VAC、50/60Hz。システム寸法: L900xW920xH1825 mm。重量: 350 kg。 Itjdpfjv Nm Inex Afrjr 新品価格は通常の中古価格よりも安いことが多いのでご了承ください。梱包作業についてお気軽にお問い合わせください。 - 通常、在庫からすぐに入手できる新しいマシンは 30 ～ 50 種類あります。さらに、お客様の仕様に合わせて製造される機械の納期は約 3 週間と非常に短くなっています。 - すべてのマシンには完全な保証が付いています。

コンディション: 故障したスペアパーツキャリア（中古）, オックスフォード・インスツルメンツ Oxford Instruments X-Strata 960 蛍光X線分析装置 – 部品取り／故障品 商品説明： 中古の蛍光X線分析装置 Oxford Instruments X-Strata 960 を出品いたします。 本製品はラボ閉鎖に伴い回収されたもので、部品取り用または修理目的でのみ販売いたします。 動作確認は行っておらず、販売上「故障品」として取り扱います。 技術仕様 – Oxford Instruments X-Strata 960（参考値） 特徴 説明 モデル X-Strata 960 メーカー Oxford Instruments 分析方法 蛍光X線分析（XRF） 用途 分析対象の膜厚測定、材料分析、貴金属検査 測定ジオメトリ 設定により上方または下方照射 放射線源 X線管（例：ロジウムアノード）、出力50～100W 検出器 プロポーショナルカウンターまたはシリコンドリフトディテクター（SDD）、仕様による 測定範囲 膜厚約0.005 – 50μm（材料に依存） スポットサイズ 約15μm～1mm（コリメーターによる） Z軸 モーター駆動、最大約230mm測定高 サンプルチャンバー（幅×奥行×高さ）約580×510×230mm サンプルテーブル 手動またはモーター駆動（200×200mm以上、装備による） フォーカスシステム 光学式／レーザーフォーカス（一部自動） オペレーティングシステム Windows搭載の産業用PC（解析ソフトインストール済） 電源 220–240V / 50–60Hz / 約500–800W 本体重量 約150～200kg（仕様による） 状態：中古／故障／部品取り用 納品範囲：画像掲載分のみ－付属品やソフトは付属しません 重要な注意事項： 本品は故障品として機能保証なしでの販売となります。 部品取りや修理・改造を目的とする方にご提供します。 機能・完全性・技術的諸元に一切保証はございません。 Iedpohaapfefx Afrstr 民法§447 BGB（発送販売）に基づき、瑕疵担保責任を一切負いません。 納品内容： Oxford Instruments X-Strata 960 掲載写真に写っている全構成部品 記載のない付属品、オプション、ドキュメント等は含まれません。 配送・引取： 引取り（ボルケン）可能・推奨 配送は要相談 （仕様や記載内容の変更・誤記についてはご容赦ください） 詳細はお電話でもご案内いたしますのでお気軽にお問合せください。

製造年: 2016, コンディション: 非常に良い（中古）, 自動X線検査装置 BGA、QFN、THT、LED、LGAなどのはんだ接合部（可視部・不可視部を問わず）の検査に対応。 Iedpfx Aswpuadofrjtr その他の機能： オフラインステーションおよびリペアステーションを含む OS：Windows 7 超高速ラインスキャンCCD検出器 検査領域：450 mm～400 mm 画像取得：2D、2.5D、3D（平面CTによるスライス画像） PCB寸法：60～450 x 50～400 mm AXI解像度：6～30 µm/px AOI： カメラ視野：42 mm x 42 mm 解像度：21 µm 検査高さ：-3～7.5 mm 光学系：テレセントリック 搬送高さ：950 mm +/- 25 mm インターフェース：SMEMA 幅調整：自動

製造年: 2016, コンディション: 使用可能（中古）, アンリツの新しいX線検査システムが利用可能になりました。 X線出力：100W、最大検出幅：240mm、最大検出高さ：120mm、2kgから5kgまでの検出速度：10m～60m/分、2kg までの検出速度：60m～90m/分、5kgから10kgまでの検出速度：10m～40m/分、ハウジング材質：ステンレス、機械重量：約 255kg、稼働時間：50時間未満。機械のコンベアベルトや放射線防護カーテンには摩耗が見られません。ドキュメントが利用可能です。現 地調査も可能です。 Isdpfsvzr Auox Afrstr

コンディション: 中古, PANalytical PANalytical X’Pert PRO MPD X線回折装置（XRD） サービスレポート抜粋： 装置名：PANalytical X’Pert PRO MPD 作成日：2021年7月7日 実施作業： - システムの再設置および稼働開始 - 外部供給ラインの接続 - ウォームアップフェーズ Ijdpfewycatjx Afretr - ゴニオメーターおよび他コンポーネントの完全調整 - メンテナンスの実施、不良部品の交換を含む 使用された交換部品： L 3.6V NC/U3 R15.0X52.0 BATTERY. NI-CD FAN FOR X-CELERATOR UNIT FAN FILTER FILTER, WATER Motor PW3050 （「本装置は当社ではテストされていません」） X’Pert PRO MPDは、結晶性材料の構造解析に対応した非常に多用途かつ高性能なX線回折装置（XRD）です。 — 純粋な研究用途だけでなく、産業や大学でのルーチンアプリケーションにも最適です。そのモジュラー設計、高速検出、温度および雰囲気制御 によって、ルーチン分析から複雑なインシチュ実験まで優れた適応性を発揮します。 主な特徴： 多彩な測定ジオメトリが可能： - ブラッグ-ブレントアノ（θ–2θ）反射モード - キャピラリー内粉末の透過測定ジオメトリ - オプションでナノ構造解析用のSAXS（小角X線散乱）も対応 X線源および検出器： - 一般的には銅アノード（Cu-Kα, λ ≈ 1.54Å） - X’Celerator検出器（1D、超高速）による並列データ取得 モジュラーシステム（PreFIXテクノロジー）： - 光学系および試料ステージの迅速交換（再キャリブレーション不要） 高温下でのインシチュ測定可能： - 約1200°Cまで対応 - 雰囲気制御：空気、窒素、酸素（還元雰囲気は制限あり） 主な用途： - フェーズ分析および定量リートベルト解析 - 結晶子サイズ、微小歪み、残留応力の測定 - フェーズ転移、酸化、結晶化等のインシチュ観察 - ナノ粒子や多孔構造解析向けのSAXS測定 - 多様なサンプル：粉末、薄膜、セラミックス、医薬品、触媒等 主な仕様（代表値）： 特性・仕様 - 角度範囲（2θ）：約0.5°～150° - ステップ幅：最大0.002°またはそれ以下 - ゴニオメーター：垂直、0–0、半径約240mm - 温度範囲：室温～約1200°C - 雰囲気：空気、N₂、O₂（還元雰囲気は制約あり） - 検出器：X’Celerator（1D）、比例計数管 導入実績・設置例： 本装置は世界中で導入実績があり、例えば以下のような場所で使用されています： - 大学（ETHチューリッヒ、TUドレスデン、ウィーン大学） - 研究機関（マックス・プランク研究所、ICN2、IS2Mなど） - 産業界（材料開発、製薬、化学等） 状態：中古 / used 付属品：写真参照 （仕様・データは予告なしに変更となる場合や誤記の可能性があります） ご不明点はお電話にてお気軽にお問い合わせください。

コンディション: 良好（中古）,