あおい

Saki Comet BF18

BF-Comet は、Saki 独自のラインスキャンカメラ画像取得コンセプトとベクトル解析を搭載しており、はんだ付け前後のあらゆる検査 (SMD、THT) に使用できます。

サイクルタイムが非常に短いため、オペレーターは実質的に待つ必要がありません。これにより、Saki テクノロジーは卓上での使用に最適です。
高精度ラインスキャンカメラは、Saki 画像取得コンセプトの中心となるユニットです。

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画像取得中、回路基板は移動しない光学系の下を 1 つの軸で通過します。ラインスキャンカメラは、異なる光源を交互に使用しながら、ラインごとに記録し、各ラインを 4 回記録します。

数秒後には、完成した回路基板のイメージが検査やプログラミングに利用できるようになります。

信頼性の高い画像分析には、可変照明法と一定照明法が不可欠です。
Saki システムには、同軸 (上)、オフセット (側)、および低 (Low) 光源の 3 つの中央可変ユニットが含まれます。

ライン画像取得コンセプトのおかげで、回路基板上の場所に関係なく、すべてのコンポーネントは常にそれぞれの照明に対して同じ距離と角度 になります。これにより、評価用に均一に照らされた画像が得られます。

いわゆるトップライトユニットは、ハーフミラーによって垂直カメラビューに導入される 100% 同軸光源です。

これにより、2D 表示用の影のない画像が作成されます。これは、信頼性の高いはんだ接合部の検査や背の高い部品間の検査に特に重要です。

MLT 照明は、錫メッキ/はんだ付けされた表面と錫メッキされていない表面の間に鮮明なカラー表示を提供するために使用されます。

スズがない領域や濡れが悪い領域は赤色で表示されるため、色認識アルゴリズムを使用して確実に識別できます。

Saki の ECD 機能を使用すると、少しプログラミングするだけで、紛失した部品、はんだボール、傷、損傷などの異物を検出できます。

いずれにしても基板全体の画像は入手できるため、この機能では検査時間（計算時間）が数秒長くなるだけです。


異物検査

- ライブラリの自動オープン。

Saki の KPK 機能は、組み立てられたコンポーネントに合わせた存在検査により、認識されないコンポーネントや新規コンポーネントのライブラリを自動的 に作成します。

- THT はんだ接合部の X/Y 座標の自動生成。

THT はんだ接合部のレイアウト データ (CAD) が不足している場合は、この機能を使用して、はんだ付けされていない回路基板とはんだ付けされた回路基板を使用して自動生成を作成できま す。

- プログラミングウィザード

CAD データのインポートからデータの調整、ライブラリの割り当てまで、プログラミング プロセス全体にわたって、ソフトウェアはプログラマーをガイドするウィザードを提供します。

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